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| 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 提刘旺; 杨晓红 ; 韩 勤
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| 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人: 杨晓红; 韩 勤; 提刘旺
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Liu WB (Liu Wen-Bao); Zhao DG (Zhao De-Gang); Jiang DS (Jiang De-Sheng); Liu ZS (Liu Zong-Shun); Zhu JJ (Zhu Jian-Jun); Zhang SM (Zhang Shu-Ming); Yang H (Yang Hui); Liu, WB, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, Beijing 100083, Peoples R China. wbliu@semi.ac.cn
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 刘文宝; 赵德刚; 江德生; 刘宗顺; 朱建军; 张书明; 杨辉
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Liang JR (Liang Ji-ran); Hu M (Hu Ming); Wang XD (Wang Xiao-dong); Li GK (Li Gui-ke); Kan Q (Kan Qiang); Ji A (Ji An); Yang FH (Yang Fu-hua); Liu J (Liu Jian); Wu NJ (Wu Nan-jian); Chen HD (Chen Hong-da); Liang, JR, Tianjin Univ, Coll Elect Sci & Technol, Sch Elect & Informat Engn, Tianjin 300072, Peoples R China. 电子邮箱地址: liang_jiran@tju.edu.cn
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 李彦波; 刘超; 张杨; 赵杰; 曾一平
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 黄寓洋; 刘惠春; Wasileweski Z R; Buchanan M; Laframboise S R; 杨晨; 崔国新; 边历峰; 杨辉; 张耀辉
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 朱琳; 刘博; 杨宇; 陈雄斌; 裴为华; 陈弘达
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 刘博; 杨宇; 陈雄斌; 陈弘达
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 刘伟; 杨富华
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