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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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语种:英语
专题:中国科学院半导体研究所(2009年前)
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期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Li W
;
Wang LX
;
Chen SF
;
Ke JH
;
Zhang YL
;
Wen JM
;
Liu Y
;
Wang X
;
Yan HQ
;
Xie L
;
Zhu NH Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoclect Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: nhzhu@semi.ac.cn
;
liwei05@semi.ac.cn
;
lxwang@semi.ac.cn
;
sfchen@semi.ac.cn
;
jhke@semi.ac.cn
;
ylzhang@semi.ac.cn
;
jmwen@semi.ac.cn
;
yliu@semi.ac.cn
;
wxin@semi.ac.cn
;
Xiel@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Wei TB
;
Hu Q
;
Duan RF
;
Wang JX
;
Zeng YP
;
Li JM
;
Yang Y
;
Liu YL
;
Wei TB Chinese Acad Sci Semicond Lighting Technol Res & Dev Ctr Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: tbwei@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08
Heteroepitaxial Growth of 3C-SiC on Si (111) Substrate using AlN as a Buffer Layer
会议论文
SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2007, Otsu, JAPAN, OCT 14-19, 2007
作者:
Zhao, YM
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Li, JY
;
Zhao, WS
;
Wang, L
;
Li, JM
;
Zeng, YP
;
Zhao, YM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Silicon Carbide
Aluminum Nitride
Buffer Layer
Lpcvd
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Xu XQ
;
Liu XL
;
Yang SY
;
Liu JM
;
Wei HY
;
Zhu QS
;
Wang ZG
;
Xu XQ Chinese Acad Sci Inst Semicond Key Lab Semicond Mat Sci POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: xlliu@red.semi.ac.cn
;
qszhu@semi.ac.cn
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浏览/下载:1311/369
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Luo, WJ
;
Wang, XL
;
Xiao, HL
;
Wang, CM
;
Ran, JX
;
Guo, LC
;
Li, JP
;
Liu, HX
;
Chen, YL
;
Yang, FH
;
Li, JM
;
Luo, WJ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: yuntianbb@hotmail.com
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
;
Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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浏览/下载:1101/423
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhao, YM
;
Sun, GS
;
Ning, J
;
Liu, XF
;
Zhao, WS
;
Wang, L
;
Li, JM
;
Zhao, YM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: ymzhao@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes
会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
;
Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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浏览/下载:2120/511
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提交时间:2010/03/09
Bulge Test Fracture Property
Silicon Carbide Thin Films
Weibull Distribution Function
Optimized design on high-power GaN-based Micro-LEDs - art. no. 684108
会议论文
SOLID STATE LIGHTING AND SOLAR ENERGY TECHNOLOGIES, Beijing, PEOPLES R CHINA, NOV 12-14, 2007
作者:
Fan, JM
;
Wang, LC
;
Guo, JX
;
Yi, XY
;
Liu, ZQ
;
Wang, GH
;
Li, JM
;
Fan, JM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, R&D Ctr Semicond Lighting, Beijing 100083, Peoples R China.
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浏览/下载:1867/454
  |  
提交时间:2010/03/09
Gan-based Led
Micro-leds
Light Extraction Efficiency
Ray Tracing
Flip-chip
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu, NH
;
Han, W
;
Li, W
;
Chen, W
;
Wen, JM
;
Liu, Y
;
Xie, L
;
Zhu, NH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhzhu@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08