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基于UV-LED细菌细胞紫外辐照基础探究 学位论文
, 中国科学院半导体研究所: 中国科学院大学, 2022
作者:  李萌萌
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Baoluo Yan;   Haifeng Liu;   Changjin Li;   Xiaorui Jiang;   Xiaolong Li;   Jiaqing Hou;   Hao Zhang;   Wei Lin;   Bo Liu;   Jianguo Liu
Adobe PDF(2995Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2021/05/24
自由空间光通信中多通道传输与转发技术研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2018
作者:  谭俊
Adobe PDF(8287Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:831/70  |  提交时间:2018/05/17
自由空间光通信  载荷无源任意光转发  一对多通道广播式通信  四路集成模块  光通信安全  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yao Nan;  Li Wei†;  Zhao Yihao;  Zhong Li;  Liu Suping;  Ma Xiaoyu
Adobe PDF(553Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:590/8  |  提交时间:2017/03/02
高功率半导体激光器寿命预测方法的研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:  姚南
Adobe PDF(2197Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1075/76  |  提交时间:2015/06/04
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Jiajie Fan;  Cheng Qian;  Kam-Chuen Yung;  Xuejun Fan;  Guoqi Zhang;  Michael Pecht
Adobe PDF(4650Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:245/1  |  提交时间:2016/04/15
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou W;  Yang JL;  Li Y;  Ji A;  Yang FH;  Yu YD;  Yang JL Chinese Acad Sci Inst Semicond Qinghua Donglu A 35 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: jlyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(646Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1400/494  |  提交时间:2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
Adobe PDF(750Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1101/423  |  提交时间:2010/03/08
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
Fracture properties of PECVD silicon nitride thin films by long rectangular memrane bulge test 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Li, Y;  Yang, FH;  Yang, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
Adobe PDF(267Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1397/372  |  提交时间:2010/03/09
Bulge Test  Fracture Property  Silicon Nitride  Weibull Distribution Function