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在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  提刘旺;  杨晓红;  韩 勤
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在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  杨晓红;  韩 勤;  提刘旺
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Peng YS (Peng Yin-Sheng);  Ye XL (Ye Xiao-Ling);  Xu B (Xu Bo);  Niu JB (Niu Jie-Bin);  Jia R (Jia Rui);  Wang ZG (Wang Zhan-Guo);  Liang S (Liang Song);  Yang XH (Yang Xiao-Hong);  Peng, YS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: cynthia@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Liang JR (Liang Ji-ran);  Hu M (Hu Ming);  Wang XD (Wang Xiao-dong);  Li GK (Li Gui-ke);  Kan Q (Kan Qiang);  Ji A (Ji An);  Yang FH (Yang Fu-hua);  Liu J (Liu Jian);  Wu NJ (Wu Nan-jian);  Chen HD (Chen Hong-da);  Liang, JR, Tianjin Univ, Coll Elect Sci & Technol, Sch Elect & Informat Engn, Tianjin 300072, Peoples R China. 电子邮箱地址: liang_jiran@tju.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang Jiayong;  Wang Xiaofeng;  Wang Xiaodong;  Ma Huili;  Cheng Kaifang;  Fan Zhongchao;  Li Yan;  Ji An;  Yang Fuhua
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  彭银生;  叶小玲;  徐波;  牛洁斌;  贾锐;  王占国;  梁松;  杨晓红
Adobe PDF(889Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1112/194  |  提交时间:2011/08/16
无权访问的条目 期刊论文
作者:  张明兰;  杨瑞霞;  王晓亮;  胡国新;  高志
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  黄添懋;  陈诺夫;  张兴旺;  白一鸣;  尹志岗;  施辉伟;  张汉;  汪宇;  王彦硕;  杨晓丽
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  黄永箴;  王世江;  杨跃德;  肖金龙;  胡永红;  杜云
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  杨广华;  毛陆虹;  黄春红;  王伟;  郭维廉
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