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一种互补式金属氧化层半导体磁传感器 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  周盛华;  吴南健;  杨志超
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Sun, Q;  Wang, JT;  Wang, H;  Jin, RQ;  Jiang, DS;  Zhu, JJ;  Zhao, DG;  Yang, H;  Zhou, SQ;  Wu, MF;  Smeets, D;  Vantomme, A;  Sun, Q, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: sunqian519@gmail.com
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
Fracture properties of PECVD silicon nitride thin films by long rectangular memrane bulge test 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Li, Y;  Yang, FH;  Yang, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test  Fracture Property  Silicon Nitride  Weibull Distribution Function  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yang, H;  Chin, MK;  Zhou, JT;  Lee, SY;  Chen, WX;  Zhu, HL;  Yang, H, Nanyang Technol Univ, Sch Elect & Elect Engn, Singapore, Singapore. 电子邮箱地址: yanghua@ntu.edu.sg
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  周蓉;  孙宝权;  阮学忠;  甘华东;  姬扬;  王玮竹;  赵建华
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