SEMI OpenIR

Browse/Search Results:  1-1 of 1 Help

Filters    
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
X射线回摆曲线定量检测SI-GaAs势光晶片的亚表面损伤层厚度 期刊论文
半导体学报, 1998, 卷号: 19, 期号: 8, 页码: 635
Authors:  曹福年;  卜俊鹏;  吴让元;  郑红军;  惠峰;  白玉珂;  刘明焦;  何宏家
Adobe PDF(260Kb)  |  Favorite  |  View/Download:1041/232  |  Submit date:2010/11/23