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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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发表日期:2008
专题:中国科学院半导体研究所(2009年前)
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第一作者单位
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专题:中国科学院半导体研究所
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期刊论文
作者:
Yu, SM
;
Yan, F
;
Zhang, XW
;
You, JB
;
Wu, PY
;
Lu, JM
;
Xu, QF
;
Xia, XW
;
Ma, GL
;
Yan, F, Suzhou Univ, Sch Chem & Chem Engn, Key Lab Organ Synth Jiangsu Prov, Suzhou 215123, Peoples R China. 电子邮箱地址: fyan@suda.edu.cn
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Liu, HY
;
Meng, ZM
;
Dai, QF
;
Wu, LJ
;
Guo, Q
;
Hu, W
;
Liu, SH
;
Lan, S
;
Yang, T
;
Lan, S, S China Normal Univ, Sch Informat & Optoelect Sci & Technol, Lab Photon Informat Technol, Guangzhou 510006, Guangdong, Peoples R China. 电子邮箱地址: slan@scnu.edu.cn
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浏览/下载:1222/376
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhou ZW
;
Li C
;
Chen SY
;
Lai HK
;
Yu JZ
;
Zhou, ZW, Xiamen Univ, Dept Phys, Semicond Photon Res Ctr, Xiamen 361005, Peoples R China. 电子邮箱地址: xmuzhouzw@yahoo.com.cn
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浏览/下载:1004/290
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Sun, Q
;
Wang, JT
;
Wang, H
;
Jin, RQ
;
Jiang, DS
;
Zhu, JJ
;
Zhao, DG
;
Yang, H
;
Zhou, SQ
;
Wu, MF
;
Smeets, D
;
Vantomme, A
;
Sun, Q, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: sunqian519@gmail.com
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Zhou ZW
;
Cai ZM
;
Li C
;
Lai HK
;
Chen SY
;
Yu JZ
;
Li, C, Xiamen Univ, Dept Phys, Semicond Photon Res Ctr, 422 S Siming Rd, Xiamen 361005, Fujian, Peoples R China. 电子邮箱地址: lich@xmu.edu.cn
;
jzyu@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:1197/295
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Jiang, JW
;
Tang, H
;
Wang, BS
;
Su, ZB
;
Jiang, JW, Chinese Acad Sci, Inst Theoret Phys, Beijing 100080, Peoples R China. 电子邮箱地址: jwjiang@itp.ac.cn
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浏览/下载:1008/257
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Wang, JW
;
Li, SS
;
Wang, JW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: sslee@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:911/295
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提交时间:2010/03/08
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes
会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
;
Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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浏览/下载:2095/511
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提交时间:2010/03/09
Bulge Test Fracture Property
Silicon Carbide Thin Films
Weibull Distribution Function
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期刊论文
作者:
Dou, XM
;
Sun, BQ
;
Xiong, YH
;
Huang, SS
;
Ni, HQ
;
Niu, ZC
;
Dou, XM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, SKLSM, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: bqsun@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:925/292
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Gao, HY
;
Yan, FW
;
Fan, ZC
;
Li, JM
;
Zeng, YP
;
Wang, GH
;
Gao, HY, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Semicond Lighting Res & Dev Ctr, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hygao@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08