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中国科学院半导体研究所机构知识库
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VGF-Ge单晶衬底完整性、复合缺陷及其对多结电池性能的影响
学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2015
作者:
曹可慰
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提交时间:2015/12/08
锗
单晶
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多结电池
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作者:
Dongyan Tao
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;
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Kewei Cao
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Zhiyuan Dong
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提交时间:2016/03/29
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期刊论文
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Hui Xie
;
Tong Liu
;
JingMing Liu
;
KeWei Cao
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ZhiYuan Dong
;
Jun Yang
;
YouWen Zhao
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提交时间:2016/03/29
偏[111]晶向锗单晶片位错显示用腐蚀液及腐蚀方法
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-09-22
发明人:
曹可慰
;
赵有文
Adobe PDF(1374Kb)
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提交时间:2016/09/22