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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中国科学院半导体研究... [3]
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2008 [1]
1999 [2]
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NUCLEAR IN... [1]
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Plasma induced damage in GaN-based light emitting diodes - art. no. 68410X
会议论文
SOLID STATE LIGHTING AND SOLAR ENERGY TECHNOLOGIES, Beijing, PEOPLES R CHINA, NOV 12-14, 2007
作者:
Li, Y
;
Yi, XY
;
Wang, XD
;
Guo, JX
;
Wang, LC
;
Wang, GH
;
Yang, FH
;
Zeng, YP
;
Li, JM
;
Li, Y, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Gan
Led
Plasma
Damage
Etch
Icp
Pecvd
First charge collection and position-precision data on the medium-resistivity silicon strip detectors before and after neutron irradiation up to 2x10(14) n/cm(2)
会议论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 426 (1), FLORENCE, ITALY, MAR 04-06, 1998
作者:
Li Z
;
Dezilllie B
;
Eremin V
;
Li CJ
;
Verbitskaya E
;
Li Z Brookhaven Natl Lab Bldg 535BPOB 5000 Upton NY 11973 USA.
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提交时间:2010/11/15
Strip Detectors
Silicon Detectors
Annealing
Simulation
Irradiation
N-eff
Junction Detectors
Radiation-damage
Models
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Li Z
;
Dezilllie B
;
Eremin V
;
Li CJ
;
Verbitskaya E
;
Li Z,Brookhaven Natl Lab,Bldg 535B,POB 5000,Upton,NY 11973 USA.
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提交时间:2010/08/12