| 测量选通像增强器光学门宽的装置及方法 | |
| 王新伟; 周燕; 李友福 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体所 |
| 公开日期 | 2016-09-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 光电子学 |
| 申请日期 | 2014-11-10 |
| 申请号 | CN201410643209.X |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27468 |
| 专题 | 光电系统实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王新伟,周燕,李友福. 测量选通像增强器光学门宽的装置及方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 测量选通像增强器光学门宽的装置及方法.p（1034KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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