SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
多级高精度微位移传感器探头; 多级高精度微位移传感器探头
王欣; 谢亮; 鞠昱; 刘宇; 漆晓琼; 孙可; 满江伟; 袁海庆; 祝宁华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-09 ; 2012-09-09 ; 2012-09-09
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种多级高精度微位移传感器探头,其中包括:一光纤束;一光纤束固定保护金属套,该光纤束固定保护金属套为中空圆柱体,在该光纤束固定保护金属套的中心开有一固定孔,所述光纤束穿过该光纤束固定保护金属套的固定孔固定。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110025009.4
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23431
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
王欣,谢亮,鞠昱,等. 多级高精度微位移传感器探头, 多级高精度微位移传感器探头.
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