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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li YL;  Chen NF;  Zhou JP;  Song SL;  Yang SY;  Liu ZK;  Li, YL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: ylli@red.semi.ac.cn
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Electronic structure and optical property of semiconductor nanocrystallites 会议论文
COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE, 30 (3-4), Singapore, SINGAPORE, DEC 07-12, 2003
作者:  Xia JB;  Chang K;  Li SS;  Xia JB Chinese Acad Sci Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China. 电子邮箱地址: xiajb@red.semi.ac.cn
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Semiconductor Cluster  Self-assembled Quantum Dot  Diluted Magnetic Semiconductor  Electronic Structure  Resonant Tunneling  Quantum Dots  Exciton-states  Spheres  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang, XX;  Zeng, YP;  Wang, XG;  Wang, BQ;  Zhu, ZP;  Zhang, XX, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: xxzhang@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yang M;  Li SS;  Li, SS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: sslee@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang XX;  Zeng YP;  Qiu ZJ;  Wang BQ;  Zhu ZP;  Zhang, XX, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: xxzhang@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li, GR;  Zhou, X;  Yang, FH;  Tan, PH;  Zheng, HZ;  Zeng, YP;  Li, GR, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Natl Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China.
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhu, L;  Zheng, HZ;  Tan, PH;  Zhou, X;  Ji, Y;  Yang, FH;  Li, GR;  Zeng, YX;  Zhu, L, Sichuan Univ, Coll Phys Sci & Technol, Chengdu 610064, Peoples R China. 电子邮箱地址: zl_pin@sohu.com
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Shallow donor defect formation and its influence on semi-insulating indium phosphide after high temperature annealing with long duration 会议论文
SMIC-XIII2004 13th International Conference on Semiconducting & Insulating Materials, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 20-25, 2004
作者:  Zhao, YW;  Dong, ZY;  Zhang, YH;  Li, CJ;  Zhao, YW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Ctr Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
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Deep-level Defects  Fe-doped Inp  Grown Inp  Spectroscopy  Resonance  Wafer