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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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研究单元&专题
中国科学院半导体研究... [6]
作者
叶小玲 [1]
徐波 [1]
文献类型
会议论文 [6]
发表日期
2002 [6]
语种
英语 [6]
出处
2002 3RD I... [3]
2002 DIGES... [1]
COMMAD 200... [1]
MATERIALS ... [1]
资助项目
收录类别
CPCI-S [6]
资助机构
Chinese In... [3]
Ansto Sims... [1]
IEEE Laser... [1]
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SEMI OpenIR
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收录类别:CPCI\-S
发表日期:2002
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期刊影响因子降序
Two-port calibration of test fixtures with OSL method.
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Chen ZY
;
Wang YL
;
Liu Y
;
Zhu NH
;
Chen ZY CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1660/408
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
Line
Choice of calibration equations of the TSM method
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Wang YL CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
Adobe PDF(205Kb)
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浏览/下载:1258/276
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Network Analyzer
Frequency Limitation
Scattering-parameter Measurement
Network-analyzer Calibration
Test Fixtures
Frequency limitation in calibrating microwave test fixtures
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Qian C
;
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Qian C CAS State Key Lab Integrated Optoelect Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
Adobe PDF(217Kb)
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浏览/下载:1302/222
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
Strong red light emission from silicon nanocrystals embedded in SIO2 matrix
会议论文
COMMAD 2002 PROCEEDINGS, SYDNEY, AUSTRALIA, DEC 11-13, 2002
作者:
Chen WD
;
Wang YQ
;
Chen CY
;
Diao HW
;
Liao XB
;
Kong GL
;
Hsu CC
;
Chen WD Chinese Acad Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1375/291
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提交时间:2010/10/29
Photoluminescence
Luminescence
Spectroscopy
Deposition
16-channel VCSEL based multiple chip modules
会议论文
2002 DIGEST OF THE LEOS SUMMER TOPICAL MEETINGS, MT TREMBLANT, CANADA, JUL 15-17, 2002
作者:
Chen HD
;
Mao LH
;
Tiang J
;
Liang K
;
Shen RX
;
Du Y
;
Huang YZ
;
Wu RH
;
Feng J
;
Ke XM
;
Liu HY
;
Wang ZG
;
Chen HD Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Detection of indium segregation effects in InGaAs/GaAs quantum wells using reflectance-difference spectrometry
会议论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, 91, RIMINI, ITALY, SEP 24-28, 2001
作者:
Ye XL
;
Chen YH
;
Xu B
;
Wang ZG
;
Chen YH Chinese Acad Sci Inst Semicond Lab Semicond Mat Sci POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1204/220
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提交时间:2010/11/15
Reflectance-difference Spectroscopy
Indium Segregation
Ingaas/gaas Quantum Wells
Epitaxy-grown Ingaas/gaas
Surface Segregation
Interface