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一种控温的半导体光电特性测试样品架 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 1999-07-28, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  张砚华;  卢励吾
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Lu ZD;  Li Q;  Xu JZ;  Zheng BZ;  Xu ZY;  Ge WK;  Lu ZD,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Superlattices & Microstruct,Beijing 100083,Peoples R China.
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  江德生;  吕振东;  崔丽秋;  周向前;  孙宝权;  徐仲英
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  卢励吾;  张砚华;  Ge Weikun;  Ho W Y;  Surya Charles;  Tongc K Y
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  李玉鉴;  谭满清;  茅冬生;  陆建祖
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  吕振东;  李晴;  许继宗;  郑宝真;  徐仲英;  葛惟锟
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