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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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Wang, LS
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Yang, SY
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Zhang, LW
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Li, HJ
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Wang, JX
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Xiang, RF
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Zhu, QS
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Wang, ZG
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提交时间:2015/03/20
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Jiang, XW
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Gong, J
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Xu, N
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Li, SS
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Zhang, JF
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Hao, Y
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Wang, LW
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提交时间:2015/03/25
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期刊论文
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Zou, Q
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Xiao, WD
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提交时间:2014/03/26
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期刊论文
作者:
Zhang, J
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Wang, R
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Lu, W
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Chen, LW
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提交时间:2013/03/19
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作者:
Zhang LB (Zhang L. B.)
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Molenkamp LW (Molenkamp L. W.)
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提交时间:2010/09/20
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期刊论文
作者:
Wu, YL
;
Zhang, LW
;
Xie, GL
;
Ni, J
;
Chen, YH
;
Zhang, LW, Tsinghua Univ, Dept Phys, Adv Mat Lab, Beijing 100084, Peoples R China. 电子邮箱地址: lwzhang@tsinghua.edu.cn
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提交时间:2010/03/08
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Wu, YL
;
Zhang, LW
;
Xie, GL
;
Zhu, JL
;
Chen, YH
;
Zhang, LW, Tsing Hua Univ, Dept Phys, Adv Mat Lab, Beijing 100084, Peoples R China. 电子邮箱地址: lwzhang@tsinghua.edu.cn
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提交时间:2010/03/08
具有外加磁场的深能级瞬态谱样品台装置及其测量方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2007-07-11, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
卢励吾
;
张砚华
;
葛惟昆
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提交时间:2009/06/11
一种光瞬态自动测试系统
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-06-14, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
蒋波
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卢励吾
;
张砚华
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提交时间:2009/06/11
具有外加磁场的深能级瞬态谱测量装置与测量方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-03-29, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:
卢励吾
;
张砚华
;
葛惟昆
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提交时间:2009/06/11