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中国科学院半导体研究所机构知识库
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Native deep level defects in ZnO single crystal grown by CVT method - art. no. 68410I
会议论文
SOLID STATE LIGHTING AND SOLAR ENERGY TECHNOLOGIES, Beijing, PEOPLES R CHINA, NOV 12-14, 2007
作者:
Zhao, YW
;
Zhang, F
;
Zhang, R
;
Dong, ZY
;
Wei, XC
;
Zeng, YP
;
Li, JM
;
Zhao, YW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Zinc Oxide
Defect
Vacancy
Characterization of bulk ZnO single crystal grown by a CVT method - art. no. 68410F
会议论文
SOLID STATE LIGHTING AND SOLAR ENERGY TECHNOLOGIES, Beijing, PEOPLES R CHINA, NOV 12-14, 2007
作者:
Wei, XC
;
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Li, JM
;
Wei, XC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
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  |  
提交时间:2010/03/09
Zinc Oxide
X-ray Diffraction
Defects
Single Crystal
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Wei, XC
;
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Li, JM
;
Wei, XC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: xcwei@semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08