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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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Two-port calibration of test fixtures with OSL method.
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Chen ZY
;
Wang YL
;
Liu Y
;
Zhu NH
;
Chen ZY CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
Adobe PDF(212Kb)
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
Line
Choice of calibration equations of the TSM method
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Wang YL CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
Adobe PDF(205Kb)
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Network Analyzer
Frequency Limitation
Scattering-parameter Measurement
Network-analyzer Calibration
Test Fixtures
Frequency limitation in calibrating microwave test fixtures
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Qian C
;
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Qian C CAS State Key Lab Integrated Optoelect Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
Adobe PDF(217Kb)
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration