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在锑化镓衬底上生长InAsxSb1-x薄膜的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-06-24, 公开日期: 3998
发明人:  高福宝;  陈诺夫;  吴金良;  刘 磊 
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单光路量子效率测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-04-01, 公开日期: 3990
发明人:  刘 磊;  陈诺夫;  曾湘波;  张 汉;  吴金良;  高福宝
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  刘磊;  陈诺夫;  汪宇;  白一鸣;  崔敏;  高福宝
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红外探测材料InAsSb/GaSb的LPE生长和性质研究 学位论文
, 北京: 中国科学院半导体研究所, 2008
作者:  高福宝
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Liu Lei;  Chen Nuofu;  Yang Xiaoli;  Wang Yu;  Gao Fubao
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Gao FB (Gao Fubao);  Chen NF (Chen NuoFu);  Liu L (Liu Lei);  Zhang XW (Zhang X. W.);  Wu JL (Wu Jinliang);  Yin ZG (Yin Zhigang);  Gao, FB, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, PO Box 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: fbgao@semi.ac.cn
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