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电学测试的汞探针装置 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-02-10, 2010-08-12
发明人:  纪 刚;  孙国胜;  宁 瑾;  刘兴昉;  赵永梅;  王 雷;  赵万顺;  曾一平;  李晋闽
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宽禁带半导体碳化硅(SiC)快速生长及多片大面积外延技术的研究 学位论文
, 北京: 中国科学院半导体研究所, 2009
作者:  纪刚
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Ji Gang;  Sun Guosheng;  Liu Xingfang;  Wang Lei;  Zhao Wanshun;  Zeng Yiping;  Li Jinmin
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