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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chu, Xinbo;  Guan, Min;  Niu, Litao;  Zeng, Yiping;  Li, Yiyang;  Zhang, Yang;  Zhu, Zhanping;  Wang,Baoqiang
Adobe PDF(2250Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:408/45  |  提交时间:2015/03/20
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chu XB (Chu, Xinbo);  Guan M (Guan, Min);  Li LS (Li, Linsen);  Zhang Y (Zhang, Yang);  Zhang F (Zhang, Feng);  Li YY (Li, Yiyang);  Zhu ZP (Zhu, Zhanping);  Wang BQ (Wang, Baoqiang);  Zeng YP (Zeng, Yiping)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li LS (Li Linsen);  Guan M (Guan Min);  Cao GH (Cao Guohua);  Li YY (Li Yiyang);  Zeng YP (Zeng Yiping);  Guan, M, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: guanmin@semi.ac.cn;  ypzeng@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li LS (Li Linsen);  Guan M (Guan Min);  Cao GH (Cao Guohua);  Li YY (Li Yiyang);  Zeng YP (Zeng Yiping)
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一种对半导体材料进行霍尔测试的装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910244534.8, 公开日期: 2011-08-31
发明人:  李弋洋;  李成基;  曾一平
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发光二极管响应特性的测试系统及方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:  牛立涛;  关敏;  楚新波;  李弋洋;  曾一平
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