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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中科院半导体材料科... [10]
作者
周冠宇 [2]
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文献类型
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发表日期
2014 [1]
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出处
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半导体量子点及其等离激元复合结构光学性质的研究
学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2014
作者:
张宏毅
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浏览/下载:1222/75
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提交时间:2014/05/30
自组织量子点
胶体量子点
金属等离激元
微区光谱技术
光致荧 光
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhang, Hongyi
;
Chen, Yonghai
;
Zhou, Xiaolong
;
Jia, Yanan
;
Ye, Xiaoling
;
Xu, Bo
;
Wang, Zhanguo
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浏览/下载:867/206
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提交时间:2013/08/27
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhang HY (Zhang, Hongyi)
;
Chen YH (Chen, Yonghai)
;
Zhou GY (Zhou, Guanyu)
;
Tang CG (Tang, Chenguang)
;
Wang ZG (Wang, Zhanguo)
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浏览/下载:789/145
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提交时间:2013/03/26
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhang, Hongyi
;
Chen, Yonghai
;
Zhou, Guanyu
;
Tang, Chenguang
;
Wang, Zhanguo
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浏览/下载:625/127
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提交时间:2013/05/07
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhou XL
;
Chen YH
;
Zhang HY
;
Zhou GY
;
Li TF
;
Liu JQ
;
Ye XL
;
Xu B
;
Wang ZG
;
Zhou, XL, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. zhouxl06@semi.ac.cn
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浏览/下载:1621/395
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提交时间:2011/07/05
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhou XL
;
Chen YH
;
Li TF
;
Zhou GY
;
Zhang HY
;
Ye XL
;
Xu B
;
Wang ZG
;
Zhou, XL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. zhouxl06@semi.ac.cn
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浏览/下载:1431/281
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提交时间:2011/07/05
光弹调制测量系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
张宏毅
;
陈涌海
;
高寒松
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浏览/下载:726/2
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提交时间:2016/08/30
半导体材料微区应力测试系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-09-18
发明人:
高寒松
;
陈涌海
;
张宏毅
;
刘雨
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浏览/下载:838/104
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提交时间:2014/11/17
材料的微区应力测试系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-07-23
发明人:
高寒松
;
陈涌海
;
刘雨
;
张宏毅
;
黄威
;
朱来攀
;
李远
;
邬庆
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浏览/下载:1063/117
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提交时间:2014/11/24
一种微区荧光扫描测量系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
秦旭东
;
张宏毅
;
叶小玲
;
陈涌海
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浏览/下载:627/3
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提交时间:2016/08/30