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| 一种对气体传感器或半导体器件性能进行测试的系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-03-12, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 王晓亮; 王新华; 冯春; 王保柱; 马志勇; 王军喜; 胡国新; 肖红领; 冉军学; 王翠梅
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Fan HB (Fan Hai-Bo); Yang SY (Yang Shao-Yan); Zhang PF (Zhang Pan-Feng); Wei HY (Wei Hong-Yuan); Liu XL (Liu Xiang-Lin); Jiao CM (Jiao Chun-Mei); Zhu QS (Zhu Qin-Sheng); Chen YH (Chen Yong-Hai); Wang ZG (Wang Zhan-Guo); Fan, HB, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hbfan@semi.ac.cn; sh-yyang@semi.ac.cn
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 罗谦; 杨谟华; 杜江锋; 梅丁蕾; 王良臣; 白云霞
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 刘学锋; 王玉田 ; 刘金平; 李建平; 李灵霄; 孙殿照; 孔梅影; 林兰英
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 王亮; 朱美芳; 郑怀德; 侯延冰; 刘丰珍
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张耀辉; 汪德生; 李锋; 吴荣汉; 周均铭; 梅笑冰
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张耀辉; 汪德生; 李峰; 周均铭; 梅笑冰
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 严勇; 王培大; 胡梅生; 孙慧龄; 李齐; 冯端
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