中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
微机电系统机械组元可靠性评估的测试装置及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910078562.7, 公开日期: 2011-08-31
发明人:  杨晋玲;  周威;  周美强;  朱银芳;  杨富华
Adobe PDF(654Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1495/246  |  提交时间：2011/08/31
与光刻分辨率无关的水平相变存储器的制备方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2012-07-18
发明人:  付英春;  王晓峰;  张加勇;  季安;  杨富华
Adobe PDF(767Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：597/96  |  提交时间：2014/10/31
一种水平全限制相变量子点相变机理的检测方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-05-15
发明人:  付英春;  王晓峰;  季安;  杨富华
Adobe PDF(1522Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：630/66  |  提交时间：2014/12/25
对砷化镓太阳电池帽层进行选择性腐蚀的化学腐蚀液 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910237097.7, 公开日期: 2011-08-31
发明人:  刘雯;  李越强;  王晓东;  陈燕凌;  杨富华
Adobe PDF(588Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1640/277  |  提交时间：2011/08/31
基于腐蚀的水平全限制相变存储器的自对准制备方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-09-22
发明人:  周亚玲;  付英春;  王晓峰;  王晓东;  杨富华
Adobe PDF(644Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：504/4  |  提交时间：2016/09/22