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单光路量子效率测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-04-01, 公开日期: 3990
发明人:  刘 磊;  陈诺夫;  曾湘波;  张 汉;  吴金良;  高福宝
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chen T;  Hong T;  Pan JQ;  Chen WX;  Cheng YB;  Wang Y;  Ma XB;  Liu WL;  Zhao LJ;  Ran GZ;  Wang W;  Qin GG;  Chen T Peking Univ State Key Lab Mesoscop Phys Beijing 100871 Peoples R China. E-mail Address: rangz@pku.edu.cn;  qingg@pku.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  刘丰满;  陈雄斌;  刘博;  杨宇;  陈弘达
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  刘丰满;  陈雄斌;  刘博;  杨宇;  陈弘达
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