光电子器件微波封装和测试

SEMI OpenIR > 中国科学院半导体研究所（2009年前）

	光电子器件微波封装和测试
	祝宁华
	2007
出版者	科学出版社
出版地	北京
摘要	本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，先进性、学术性和实用性兼备。全书共十一章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术的总结。
学科领域	光电子学
目录	序前言第一章绪论 1.1 器件封装设计的重要性 1.2 器件测试分析的意义 1.3 本书主要涉及的器件的类型 1.4 本书的特点第二章高速半导体激光器的微波封装设计 2.1 激光器封装类型 2.2 微波设计和封装方法 2.3 激光器等效电路模型 2.4 集总参数和分布式模型 2.5 “黑盒子”式等效电路模型 2.6 封装技术潜在带宽估计 2.7 激光器封装的优化设计 2.8 补偿技术思考题参考文献第三章高速光调制器的微波封装设计 3.1 铌酸锂光波导调制器 3.2 电吸收光调制器 3.3 电吸收光调制器的等效电路模型 3.4 EML三端口等效电路模型的建立与分析 3.5 封装的优化设计思考题参考文献第四章高速半导体光探测器的封装设计 4.1 封装类型 4.2 微波设计和封装方法 4.3 光探测器的等效电路模型 4.4 封装潜在带宽研究 4.5 封装的优化设计思考题参考文献第5章小信号频率响应特性 5.1 小信号与大信号频率响应 5.2 常用的网络参数 5.3 散射参数 5.4 双端口级联网络的参数 5.5 光电子器件S参数 5.6 主要性能指标定义 5.7 动态特性曲线思考题参考文献第六章网络分析仪扫频测试方法 6.1 测试方法优点与局限性 6.2 校准的概念和测试夹具的设计 6.3 校准过程中出现的问题 …… 第七章调制器频率响应的小信号功率测试法第八章光外差技术及其应用第九章大信号响应特性测试方法第十章光电子器件本征特性分析及其应用第十一章光谱与频谱分析技术索引
ISBN	7030191986
语种	中文
文献类型	专著
条目标识符	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/6264
专题	中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	祝宁华. 光电子器件微波封装和测试[M]. 北京:科学出版社,2007.

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