共振遂穿二极管与高电子迁移率晶体管器件制作方法
黄应龙; 杨富华; 王良臣; 王建林; 伊小燕; 马龙
2006-07-26
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2005-01-18
语种中文
申请号200510004572
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/3409
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
黄应龙,杨富华,王良臣,等. 共振遂穿二极管与高电子迁移率晶体管器件制作方法[P]. 2006-07-26.
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