Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 带有外加磁场的深能级测量样品架装置 | |
| 卢励吾; 张砚华; 葛惟昆 | |
| 2004-10-06 | |
| 公开日期 | 2009-06-04 ; 2009-06-11 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请日期 | 2003-10-23 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | CN200320100866.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/3305 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卢励吾,张砚华,葛惟昆. 带有外加磁场的深能级测量样品架装置[P]. 2004-10-06. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 200320100866.pdf（267KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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