光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法 | |
楚新波; 关敏; 牛立涛; 李戈洋; 曾一平 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2014-09-03 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
学科领域 | 半导体材料 |
申请日期 | 2013-05-13 |
申请号 | CN201410200421.9 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25925 |
专题 | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 楚新波,关敏,牛立涛,等. 光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法(583KB) | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 |
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