| 一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统 | |
| 王永杰; 卢宝莉; 戴兴; 刘元辉; 李芳; 刘育梁 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2014-04-30 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 光电子学 |
| 申请日期 | 2014-01-22 |
| 申请号 | CN201410030644.5 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25872 |
| 专题 | 光电系统实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王永杰,卢宝莉,戴兴,等. 一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统.pd（1582KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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