SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
电缆线芯温度的间接测量方法
方睿; 鲁华祥; 李志坚; 边昳; 骆辰; 陈天翔
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-05-21
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2014-03-07
申请号CN201410083351.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25766
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
方睿,鲁华祥,李志坚,等. 电缆线芯温度的间接测量方法.
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