Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 基于数学形态学的量子点检测方法 | |
| 徐露露; 鲁华祥; 边昳; 陈旭; 龚国良; 刘文鹏; 张放; 金敏; 陈刚 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2012-12-19 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 人工智能 |
| 申请日期 | 2012-07-05 |
| 申请号 | CN201210232222.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25232 |
| 专题 | 高速电路与神经网络实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐露露,鲁华祥,边昳,等. 基于数学形态学的量子点检测方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 基于数学形态学的量子点检测方法.pdf（1577KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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