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氮化镓基高电子迁移率晶体管及制作方法; 氮化镓基高电子迁移率晶体管及制作方法
王晓亮; 毕杨; 王翠梅; 肖红领; 冯春; 姜丽娟; 陈竑
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-08-29 ; 2012-08-29 ; 2012-08-29
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种氮化镓基高电子迁移率晶体管结构,包括:一衬底;一低温氮化镓成核层,该低温氮化镓成核层制作在衬底上面;一非有意掺杂氮化镓高阻层,该非有意掺杂氮化镓高阻层制作在低温氮化镓成核层上面;一非有意掺杂高迁移率氮化镓层,该非有意掺杂高迁移率氮化镓层制作在非有意掺杂氮化镓高阻层上面;一氮化铝插入层,该氮化铝插入层制作在非有意掺杂高迁移率氮化镓层上面;一非有意掺杂铟铝氮势垒层,该非有意掺杂铟铝氮势垒层制作在氮化铝插入层上面;一非有意掺杂铝镓氮势垒层,该非有意掺杂铝镓氮势垒层制作在非有意掺杂铟铝氮势垒层上面。一非有意掺杂氮化镓盖帽层,该非有意掺杂氮化镓盖帽层制作在非有意掺杂铝镓氮势垒层上面。
部门归属半导体材料科学中心
申请日期2011-12-06
专利号 CN102427084A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110401468.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23309
专题半导体材料科学中心
推荐引用方式
GB/T 7714
王晓亮,毕杨,王翠梅,等. 氮化镓基高电子迁移率晶体管及制作方法, 氮化镓基高电子迁移率晶体管及制作方法.  CN102427084A.
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氮化镓基高电子迁移率晶体管及制作方法.p(570KB) 限制开放使用许可请求全文
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