采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法 | |
李艳; 杨富华; 唐龙娟; 朱银芳 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2011-08-31 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
摘要 | 本发明公开了一种采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法,该方法包括:步骤1:对样品进行清洗并预热;步骤2:在样品上淀积氮化硅薄膜;步骤3:对淀积有氮化硅薄膜的样品进行退火。本发明只使用一种功率源,方法简单快捷,普适性强,可淀积2微米以上的薄膜,薄膜应力小,抗腐蚀性能好。 |
部门归属 | 半导体集成技术工程研究中心 |
专利号 | CN200910081224.9 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 公开 |
申请号 | CN200910081224.9 |
专利代理人 | 周国城 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22403 |
专题 | 半导体集成技术工程研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李艳,杨富华,唐龙娟,等. 采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法. CN200910081224.9. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
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