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采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法
李艳; 杨富华; 唐龙娟; 朱银芳
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法,该方法包括:步骤1:对样品进行清洗并预热;步骤2:在样品上淀积氮化硅薄膜;步骤3:对淀积有氮化硅薄膜的样品进行退火。本发明只使用一种功率源,方法简单快捷,普适性强,可淀积2微米以上的薄膜,薄膜应力小,抗腐蚀性能好。
部门归属半导体集成技术工程研究中心
专利号CN200910081224.9
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910081224.9
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22403
专题半导体集成技术工程研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
李艳,杨富华,唐龙娟,等. 采用13.56MHz射频功率源淀积氮化硅薄膜的方法. CN200910081224.9.
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