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制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法
胡强; 段瑞飞; 魏同波; 杨建坤; 霍自强; 曾一平
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法,包含以下步骤:步骤1:首先在衬底上生长一层ZnO膜;步骤2:在ZnO膜上生长低温缓冲层,形成样品;步骤3:在氢化物气相外延系统中,在低温缓冲层的上面高温生长GaN厚膜;步骤4:在氢化物气相外延系统中高温生长后,因氢化物气相外延系统中的HCl和NH3等腐蚀性气体,将ZnO膜2腐蚀,使GaN厚膜直接从衬底上脱离下来形成大尺寸的GaN自支撑衬底。
部门归属半导体材料科学中心
专利号CN200910235336.5
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910235336.5
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22327
专题半导体材料科学中心
推荐引用方式
GB/T 7714
胡强,段瑞飞,魏同波,等. 制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法. CN200910235336.5.
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