| 制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法 |
| 胡强; 段瑞飞; 魏同波; 杨建坤; 霍自强; 曾一平
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专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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公开日期 | 2011-08-31
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明
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摘要 | 一种制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法,包含以下步骤:步骤1:首先在衬底上生长一层ZnO膜;步骤2:在ZnO膜上生长低温缓冲层,形成样品;步骤3:在氢化物气相外延系统中,在低温缓冲层的上面高温生长GaN厚膜;步骤4:在氢化物气相外延系统中高温生长后,因氢化物气相外延系统中的HCl和NH3等腐蚀性气体,将ZnO膜2腐蚀,使GaN厚膜直接从衬底上脱离下来形成大尺寸的GaN自支撑衬底。 |
部门归属 | 半导体材料科学中心
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专利号 | CN200910235336.5
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语种 | 中文
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专利状态 | 公开
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申请号 | CN200910235336.5
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专利代理人 | 汤保平
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22327
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专题 | 半导体材料科学中心
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
胡强,段瑞飞,魏同波,等. 制备大尺寸GaN自支撑衬底的方法. CN200910235336.5.
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