SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法
陈伟; 祝宁华; 刘建国; 谢亮
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-30
Country中国
Subtype发明
Abstract一种单模激光器波长精确测量装置,包括:一待测激光器;一外调制器,该外调制器的输入端与待测激光器的输出端通过光纤连接;该待测激光器的输出光经连接光纤被送入到调制器中;一微波驱动器,该微波驱动器的输入输出端分别与微波网络分析仪输出端和外调制器的微波输入端连接;一光纤环形腔,该光纤环形腔的输入端与外调制器的输出端连接;一光电探测器,该光电探测器的输入端与光纤环形腔的输出端连接;一温控装置;一微波网络分析仪,该微波网络分析仪的信号输出端口与微波驱动器的微波输入端连接;该微波网络分析仪的信号输入端与光电探测器的输出端连接。
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Patent NumberCN200910244535.2
Language中文
Status公开
Application NumberCN200910244535.2
Patent Agent汤保平
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21983
Collection集成光电子学国家重点实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
陈伟,祝宁华,刘建国,等. 单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法. CN200910244535.2.
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