SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
半导体纳米柱阵列结构的制作方法
白安琪; 成步文; 左玉华; 王启明
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种半导体纳米柱阵列结构的制作方法,包括如下步骤:步骤1:在一半导体衬底上生长铝层;步骤2:对铝层进行阳极氧化,形成孔洞由表面直达半导体衬底,形成多孔氧化铝膜;步骤3:在多孔氧化铝膜的表面淀积金属,在多孔氧化铝膜的孔洞内形成金属点;步骤4:将多孔氧化铝膜湿法腐蚀掉,从而在半导体衬底上形成金属点阵列;步骤5:以金属点阵列为掩膜对半导体衬底进行刻蚀,去掉金属点阵列,在半导体衬底上形成半导体纳米柱阵列。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN201010183395.5
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010183395.5
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21929
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
白安琪,成步文,左玉华,等. 半导体纳米柱阵列结构的制作方法. CN201010183395.5.
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