SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法
牛智川; 倪海桥; 王海莉; 贺继方; 朱岩; 李密峰; 王鹏飞; 黄社松; 熊永华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法,包括:将GaAs衬底放在样品托上,并引入进样室进行烘烤;烘烤完毕,将GaAs衬底引入制备室,并对GaAs衬底进行除气处理;将除过气的GaAs衬底引入生长室,对GaAs衬底的加热器进行升温,在有As保护的情况下对GaAs衬底进行脱氧;将GaAs衬底的加热器温度降至生长温度,生长GaAs缓冲层,并掺杂Si;生长多对GaAs/AlGaAs分布式布拉格反射镜;降低生长温度,生长低密度量子点;生长InGaAs(Sb)盖层;生长耦合量子点拓展波长;生长掺杂GaAs层;制作上下电极。利用本发明,有效改善量子点发光效率,提高了收集效率以及实现了波长的调控。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
专利号CN200910235334.6
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910235334.6
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21863
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
牛智川,倪海桥,王海莉,等. 一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法. CN200910235334.6.
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