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| 一种多功能反射式磁光光谱测量系统 | |
朱科; 朱汇 ; 刘剑; 章昊; 徐萍; 李桂荣; 郑厚植
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| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2011-08-30 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract | 本发明公开了一种多功能反射式磁光光谱测量系统，使用超连续白光光源、光栅单色仪、若干偏振镜片、光弹调制器、宽带1/4与1/2波片、消偏振分光棱镜(NPBS)、单端与差分探测器以及OXFORD低温超导磁体系统，组成结构灵活可变的光谱探测系统，可以在同一光路上实现反射式磁圆二向色性(MCD)、极向磁光克尔效应、偏振反射光谱以及磁线二向色性(MLD)的测量。该系统灵敏度高，可用于基础物理研究、材料特性分析和偏振调制光通信等诸多领域。 |
| metadata_83 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| Patent Number | CN201010143096.9 |
| Language | 中文 |
| Status | 公开 |
| Application Number | CN201010143096.9 |
| Patent Agent | 周国城 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21835 |
| Collection | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 朱科,朱汇,刘剑,等. 一种多功能反射式磁光光谱测量系统. CN201010143096.9. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| CN201010143096.9.pdf（717KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
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