Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
高分辨率共聚焦显微镜 | |
俞育德; 李运涛; 余金中 | |
2010-08-12 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2010-01-27 ; 2010-08-12 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
摘要 | 本发明是一种高分辨率共聚焦显微镜,包括激发光部分,由光源、调制器阵列、扩束透镜组成;样品台部分,由样品台、光学调制器阵列、物镜构成;收集光部分,由聚焦透镜、光学调制器阵列、光电倍增管构成;图像处理部分,由信号放大电路、计算机组成。本发明提出的高分辨率共聚焦显微镜具有光学调制器阵列,通过电学控制方法实现光学调制器阵列的开光控制,取代传统共聚焦显微镜的机械旋转部件和电动快门;并能够实现对扫描区域组合和孔径的自由控制。控制光学调制器阵列全部打开,则显微镜为大视场显微镜;控制调制器阵列局部打开,则为共焦扫描显微镜。可以实现样品的选区共焦成像。 |
申请日期 | 2008-07-23 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 实质审查的生效 |
申请号 | CN200810117071.4 |
专利代理人 | 王波波:中科专利商标代理有限责任公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13404 |
专题 | 中国科学院半导体研究所(2009年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 俞育德,李运涛,余金中. 高分辨率共聚焦显微镜[P]. 2010-08-12. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
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