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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yang, AL;  Wei, HY;  Liu, XL;  Song, HP;  Fan, HB;  Zhang, PF;  Zheng, GL;  Yang, SY;  Zhu, QS;  Wang, ZG;  Yang, AL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: alyang@semi.ac.cn;  xlliu@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Shi, LJ;  Fang, ZJ;  Li, JB;  Shi, LJ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jbli@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li, J;  Wang, RZ;  Lan, W;  Zhang, XW;  Duan, ZQ;  Wang, B;  Yan, H;  Li, J, Beijing Univ Technol, Coll Mat Sci & Engn, Lab Thin Film Mat, Beijing 100124, Peoples R China. 电子邮箱地址: wrz@bjut.edu.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cui, JP;  Wang, XF;  Duan, Y;  He, JX;  Zeng, YP;  Cui, JP, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: ypzeng@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang, T;  Zhang, WF;  Chen, YH;  Yin, J;  Zhang, WF, Henan Univ, Inst Microsyst Phys, Sch Phys & Elect, Kaifeng 475004, Peoples R China. 电子邮箱地址: wfzhang@henu.edu.cn
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Fabrication of Nano-structured VOx Film by Low Temperature Ion Beam Sputtering and Reductive Annealing 会议论文
2008 2ND IEEE INTERNATIONAL NANOELECTRONICS CONFERENCE, Shanghai, PEOPLES R CHINA, MAR 24-27, 2008
作者:  Wang XD;  Li GK;  Liang JR;  Ji A;  Hu M;  Yang FH;  Liu J;  Wu NJ;  Chen HD;  Wang, XD, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Engn Res Ctr Semicond Integrated Technol, Beijing 100083, Peoples R China.
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V2o5 Thin-films  
Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Fang, ZJ;  Fang, C;  Shi, LJ;  Liu, YH;  He, MC;  Fang, ZJ, China Univ Min & Technol, Sch Mech & Civil Engn, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: nnfang@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wu, YL;  Zhang, LW;  Xie, GL;  Ni, J;  Chen, YH;  Zhang, LW, Tsinghua Univ, Dept Phys, Adv Mat Lab, Beijing 100084, Peoples R China. 电子邮箱地址: lwzhang@tsinghua.edu.cn
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