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一种热光开关阵列光电特性测试装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  李运涛;  陈少武;  余金中
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chen YY (Chen Yuan-Yuan);  Li YP (Li Yan-Ping);  Sun F (Sun Fei);  Yang D (Yang Di);  Chen SW (Chen Shao-Wu);  Yu JZ (Yu Jin-Zhong);  Chen, YY, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: chyy@red.semi.ac.cn
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