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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中国科学院半导体研究... [5]
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成步文 [1]
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期刊论文 [4]
会议论文 [1]
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2009 [1]
2006 [3]
2000 [1]
语种
英语 [5]
出处
MATERIALS ... [2]
APPLIED PH... [1]
SEMICONDUC... [1]
半导体学报 [1]
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专题:中国科学院半导体研究所(2009年前)
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期刊论文
作者:
Ding K (Ding, K.)
;
Zeng YP (Zeng, Y. P.)
;
Wei XC (Wei, X. C.)
;
Li ZC (Li, Z. C.)
;
Wang JX (Wang, J. X.)
;
Lu HX (Lu, H. X.)
;
Cong PP (Cong, P. P.)
;
Yi XY (Yi, X. Y.)
;
Wang GH (Wang, G. H.)
;
Li JM (Li, J. M.)
;
Ding, K, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: dingkai@red.semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/08
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期刊论文
作者:
Li Z (Li Z.)
;
Li CJ (Li C. J.)
;
Li, Z, Brookhaven Natl Lab, Upton, NY 11973 USA. E-mail: zhengl@bnl.gov
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提交时间:2010/04/11
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期刊论文
作者:
Jin P (Jin Peng)
;
Pan SH (Pan S. H.)
;
Li YG (Li Y. G.)
;
Zhang CZ (Zhang C. Z.)
;
Wang ZG (Wang Z. G.)
;
Jin, P, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: pengjin@red.semi.ac.cn
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提交时间:2010/04/11
Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity Si sensors/detectors
会议论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 13-19, 2005
作者:
Li, Z (Li, Z.)
;
Li, CJ (Li, C. J.)
;
Li, Z, Brookhaven Natl Lab, Upton, NY 11973 USA. 电子邮箱地址: zhengl@bnl.gov
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提交时间:2010/03/29
Dlts
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期刊论文
作者:
Yu Z(于卓)
;
Li DZ(李代宗)
;
Cheng BW(成步文)
;
Li C(李成)
;
Lei ZL(雷震霖)
;
Huang CJ(黄昌俊)
;
Zhang CH(张春辉)
;
Yu JZ(余金中)
;
Wang QM(王启明)
;
Liang JW(梁骏吾)
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提交时间:2010/11/23