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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yang, YJ;  Wang, JX;  Li, JM;  Zeng, YP
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wang, JM;  Xu, FJ;  Zhang, X;  An, W;  Li, XZ;  Song, J;  Ge, WK;  Tian, GS;  Lu, J;  Wang, XQ;  Tang, N;  Yang, ZJ;  Li, W;  Wang, WY;  Jin, P;  Chen, YH;  Shen, B
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Liu JM;  Liu XL;  Li CM;  Wei HY;  Guo Y;  Jiao CM;  Li ZW;  Xu XQ;  Song HP;  Yang SY;  Zhu QS;  Wang ZG;  Yang AL;  Yang TY;  Wang HH;  Liu, JM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. liujianming@semi.ac.cn;  xlliu@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Shi K;  Li DB;  Song HP;  Guo Y;  Wang J;  Xu XQ;  Liu JM;  Yang AL;  Wei HY;  Zhang B;  Yang SY;  Liu XL;  Zhu QS;  Wang ZG;  Shi, K, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. shikai@semi.ac.cn;  lidb@ciomp.ac.cn;  xlliu@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Liu JM (Liu J. M.);  Liu XL (Liu X. L.);  Xu XQ (Xu X. Q.);  Wang J (Wang J.);  Li CM (Li C. M.);  Wei HY (Wei H. Y.);  Yang SY (Yang S. Y.);  Zhu QS (Zhu Q. S.);  Fan YM (Fan Y. M.);  Zhang XW (Zhang X. W.);  Wang ZG (Wang Z. G.)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Sun GS (Sun Guo-Sheng);  Liu XF (Liu Xing-Fang);  Wang L (Wang Lei);  Zhao WS (Zhao Wan-Shun);  Yang T (Yang Ting);  Wu HL (Wu Hai-Lei);  Yan GG (Yan Guo-Guo);  Zhao YM (Zhao Yong-Mei);  Ning J (Ning Jin);  Zeng YP (Zeng Yi-Ping);  Li JM (Li Jin-Min)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Li ZW;  Xu XQ;  Wang J;  Liu JM;  Liu XL;  Yang SY;  Zhu QS;  Wang ZG;  Li, ZW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. lizhiwei@semi.ac.cn;  xlliu@semi.ac.cn;  qszhu@semi.ac.cn
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定量检测痕量罗丹明6G的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102109467A, 公开日期: 2012-09-09, 2012-09-09, 2012-09-09
发明人:  张君梦;  曲胜春;  张利胜;  王占国
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一种测量LED内量子效率的方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-03-19
发明人:  魏学成;  赵丽霞;  张连;  于治国;  王军喜;  曾一平;  李晋闽
Adobe PDF(327Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:717/121  |  提交时间:2014/11/05