中文版 | English

在结果中检索

SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
单光路量子效率测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-04-01, 公开日期: 3990
发明人:  刘 磊;  陈诺夫;  曾湘波;  张 汉;  吴金良;  高福宝
Adobe PDF(668Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1346/211  |  提交时间：2010/03/19
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chen T;  Hong T;  Pan JQ;  Chen WX;  Cheng YB;  Wang Y;  Ma XB;  Liu WL;  Zhao LJ;  Ran GZ;  Wang W;  Qin GG;  Chen T Peking Univ State Key Lab Mesoscop Phys Beijing 100871 Peoples R China. E-mail Address: rangz@pku.edu.cn;  qingg@pku.edu.cn
Adobe PDF(571Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1316/409  |  提交时间：2010/03/08