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Influence of crystal perfection on the reverse leakage current of the SiGe Si p-n heterojunction diodes 会议论文
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 201, CANNES, FRANCE, AUG 31-SEP 04, 1998
作者:  Liu XF;  Liu JP;  Li JP;  Wang YT;  Li LY;  Sun DZ;  Kong MY;  Lin LY;  Liu XF Chinese Acad Sci Inst Semicond Mat Ctr Beijing 100083 Peoples R China.
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