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在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  提刘旺;  杨晓红;  韩 勤
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在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  杨晓红;  韩 勤;  提刘旺
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  彭红玲;  章昊;  韩勤;  杨晓红;  杜云;  倪海桥;  佟存柱;  牛智川;  郑厚植;  吴荣汉
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  梁琨;  陈弘达;  杜云;  唐君;  杨晓红;  吴荣汉
Adobe PDF(223Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：819/289  |  提交时间：2010/11/23