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| 具有外加磁场的深能级瞬态谱样品台装置及其测量方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2007-07-11, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 卢励吾; 张砚华; 葛惟昆
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| 一种光瞬态自动测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-06-14, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 蒋波; 卢励吾; 张砚华
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| 具有外加磁场的深能级瞬态谱测量装置与测量方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-03-29, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 卢励吾; 张砚华; 葛惟昆
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张燕; 龚海梅; 白云; 陈亮 ; 许金通; 汤英文; 游达; 赵德刚; 郭丽伟; 李向阳
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 韦文生; 王天民; 张春熹; 李国华; 卢励吾
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| 带有外加磁场的深能级测量样品架装置 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2004-10-06, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 卢励吾; 张砚华; 葛惟昆
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| 半导体材料电信号测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2003-07-16, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人: 张砚华; 卢励吾; 葛惟昆
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu LW; Zhang YH; Xu ZT; Xu ZY; Wang ZG; Wang J; Ge WK; Lu LW,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,Beijing 100083,Peoples R China.
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Lu LW; Zhang YH; Wang J; Ge W; Lu LW,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Lab Semicond Mat Sci,Beijing 100083,Peoples R China.
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 卢励吾; 张砚华; 徐遵图; 徐仲英; 王占国; Wang J; Ge Weikun
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