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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中国科学院半导体研究... [8]
半导体超晶格国家重点... [4]
作者
王博 [1]
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期刊论文
作者:
Hu, Chuqiao
;
Li, La
;
Shen, Guozhen
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提交时间:2022/05/09
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Sheng-Wen Xie
;
Yu Zhang
;
Cheng-Ao Yang
;
Shu-Shan Huang
;
Ye Yuan
;
Yi Zhang
;
Jin-Ming Shang
;
Fu-Hui Shao
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Ying-Qiang Xu
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Hai-Qiao Ni
;
Zhi-Chuan Niu
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提交时间:2020/07/30
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Wang, XF
;
Liu, B
;
Xiang, QY
;
Wang, QF
;
Hou, XJ
;
Chen, D
;
Shen, GZ
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浏览/下载:370/73
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提交时间:2015/05/11
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Wang, QF
;
Xu, J
;
Wang, XF
;
Liu, B
;
Hou, XJ
;
Yu, G
;
Wang, P
;
Chen, D
;
Shen, GZ
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提交时间:2015/05/11
无权访问的条目
期刊论文
作者:
王博
;
赵有文
;
董志远
;
邓爱红
;
苗杉杉
;
杨俊
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提交时间:2010/11/23
Annealing ambient controlled deep defect formation in InP
会议论文
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-APPLIED PHYSICS, 27 (1-3), Batz sur Mer, FRANCE, SEP 29-OCT 02, 2003
作者:
Zhao YW
;
Dong ZY
;
Duan ML
;
Sun WR
;
Zeng YP
;
Sun NF
;
Sun TN
;
Zhao YW Chinese Acad Sci Inst Semicond Ctr Mat Sci POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. 电子邮箱地址: zhaoyw@red.semi.ac.nc
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提交时间:2010/10/29
Fe-doped Inp
Semiinsulating Inp
Point-defects
Pressure
Wafers
Traps
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Duan, ML
;
Sun, WR
;
Zeng, YP
;
Sun, NF
;
Sun, TN
;
Zhao, YW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Ctr Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhaoyw@red.semi.ac.nc
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提交时间:2010/03/09
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Deng AH
;
Mascher P
;
Zhao YW
;
Lin LY
;
Deng AH,Sichuan Univ,Dept Appl Phys,Sichuan 610065,Peoples R China.
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浏览/下载:921/298
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提交时间:2010/08/12
Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers
会议论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, 91, RIMINI, ITALY, SEP 24-28, 2001
作者:
Zhao YW
;
Sun NF
;
Dong HW
;
Jiao JH
;
Zhao JQ
;
Sun TN
;
Lin LY
;
Sun NF Hebei Semicond Res Inst POB 179-40 Shijiazhuang 050002 Hebei Peoples R China.
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提交时间:2010/11/15
Indium Phosphide
Semi-insulating
Annealing
Picts
Photoluminescence
Semiinsulating Inp
Indium-phosphide
Fe
Photoluminescence
Temperature
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhao YW
;
Sun NF
;
Dong HW
;
Jiao JH
;
Zhao JQ
;
Sun TN
;
Lin LY
;
Sun NF,Hebei Semicond Res Inst,POB 179-40,Shijiazhuang 050002,Hebei,Peoples R China.
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提交时间:2010/08/12