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高介电常数氧化物中缺陷与掺杂的第一性原理研究 学位论文
理学博士, 中国科学院半导体研究所: 中国科学院大学, 2023
作者:  刘竹友
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基于四方相ZrO2缺陷的DRAM电容器可靠性研究 学位论文
理学硕士, 中国科学院半导体研究所: 中国科学院大学, 2023
作者:  李广卓
Adobe PDF(3295Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：198/0  |  提交时间：2023/07/03
电-声耦合对半导体器件可靠性的影响 学位论文
, 中国科学院半导体研究所: 中国科学院大学, 2023
作者:  肖遥
Adobe PDF(1975Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2024/05/23