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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中国科学院半导体研究... [6]
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文献类型:会议论文
专题:中国科学院半导体研究所(2009年前)
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专题:中国科学院半导体研究所
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes
会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
;
Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Bulge Test Fracture Property
Silicon Carbide Thin Films
Weibull Distribution Function
Fracture properties of PECVD silicon nitride thin films by long rectangular memrane bulge test
会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Li, Y
;
Yang, FH
;
Yang, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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浏览/下载:1606/372
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提交时间:2010/03/09
Bulge Test
Fracture Property
Silicon Nitride
Weibull Distribution Function
Research of Face Location System Based on Human Vision Simulations
会议论文
INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT COMPUTATION TECHNOLOGY AND AUTOMATION, Changsha, PEOPLES R CHINA, OCT 20-22, 2008
作者:
Mo, HY
;
Li, WJ
;
Lai, JL
;
Dai, L
;
Mo, HY, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Lab Artificial Neural Networks, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Face Location
Human Vision
Low-pass Filter
Image Segmentation
Region Selecting And Merging
The improvement of thick oxidized porous silicon layer growth process - art. no. 60290S
会议论文
ICO20 Materials and Nanostructures丛书标题: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE), Changchun, PEOPLES R CHINA, AUG 21-26, 2005
作者:
Li J
;
An JM
;
Wang HJ
;
Xia JL
;
Gao DS
;
Hu XW
;
Li, J, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/29
Porous Silicon
Mode analysis of the UV-written channel waveguide - art. no. 60340J
会议论文
ICO20 Optical Design and Fabrication丛书标题: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE), Changchun, PEOPLES R CHINA, AUG 21-26, 2005
作者:
Xia JL
;
Wu YD
;
An JM
;
Li J
;
Gao DS
;
Hu XW
;
Xia, JL, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Res & Dev, Ctr Optoelect, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/29
Uv-written
SiGe/Si quantum well resonant-cavity-enhanced photodetector
会议论文
TERAHERTZ AND GIGAHERTZ ELECTRONICS AND PHOTONICS II, 4111, SAN DIEGO, CA, JUL 31-AUG 02, 2000
作者:
Li C
;
Yang QQ
;
Wang HJ
;
Zhu JL
;
Luo LP
;
Yu JZ
;
Wang QM
;
Li C Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Rce Photodetector
Sige/si
Simox
Bragg Reflector